Highlights der Wiener NIDays 2013

Bereits zum 16. Mal hat der Technologie- und Expertenkongress NIDays, der am 17. April 2013 im Studio 44 der Österreichischen Lotterien in Wien stattfand, etwa 150 Besucher begeistert.

Im Mittelpunkt der NIDays 2013 standen Neuheiten rund um das PXI-Ökosystem von NI, angeführt durch die beiden ersten Vertreter einer innovativen neuen Klasse softwaredesignter Messgeräte: Anders als herkömmliche RF-Messgeräte gestatten es die beiden Vektorsignal-Transceiver (VST), der NI PXIe-5644R und der brandneue NI PXIe-5645R, dem Anwender, mithilfe von NI LabVIEW die offene, FPGA-basierte (Field-Programmable Gate Array) Hardware auf individuelle Anforderungen zuzuschneiden. Damit kann der Nutzer selbst – und nicht wie bisher nur der Hersteller – die Funktionalität seines Messgeräts bestimmen.

Zudem wurden der PXI-Express-Vektornetzwerkanalysator NI PXIe-5632, ein PXI-Express-Chassis mit 18 Hybridsteckplätzen sowie der Embedded-Controller NI PXIe-8135 vorgestellt. Insgesamt können Anwender nun somit auf über 500 PXI-Produkte von National Instruments zurückgreifen – mehr als bei jedem anderen Anbieter in diesem Markt.

Fachvorträge & Applikationen

Darüber hinaus konnten sich die Teilnehmer in fünf verschiedenen Vortragsreihen unter anderem zu den Themen „Versuchssteuerung, Technisches Datenmanagement und Bildverarbeitung“, „LabVIEW Power Programming“, „Embedded Control and Monitoring”, „Industrielle Datenerfassung und Prüfsysteme” und „Automatisierte Prüfsysteme“ informieren. Sowohl erfolgreiche Anwender als auch NI-Experten stellten dabei innovative Applikationen und Lösungen vor.

Verleihung des 'Best Paper Award'

Den diesjährigen Best Paper Award erhielten Dipl.-Ing. Johann Spreitzer und Ing. Philipp Grassl vom Institute for Powertrains and Automotive Technology der Vienna University of Technology für ihren Beitrag „Modulares Benutzerinterface zur Prüfstandssteuerung und Messgrößenerfassung für den Einsatz in der automobilen Antriebsforschung“.

Von den Besuchern ebenfalls sehr gut angenommen wurden die kostenfreie Prüfung zum Certified LabVIEW Associate Developer (CLAD) sowie die kongressbegleitende Fachausstellung, bei der externe Aussteller ihre Produkte vorstellten und den Teilnehmern damit eine gute Networking-Plattform boten.