Technology Forum 2019 - Verfahren zur Oberflächeninspektion mit strukturierten Beleuchtungsmustern

Vortrag beim Technologieforum Bildverarbeitung 8./9.10.2019 in Unterschleißheim (Deutschland) Referent: Dr. Christoph Wagner, SAC Sirius Advanced Cybernetics GmbH Strukturierte Beleuchtungsmuster eröffnen neue Möglichkeiten für die schnelle und effiziente Prüfung von Oberflächen. Ausgewählte Muster ermöglichen die Prüfung auf feinste 3D-Defekte bis hin zum Glanz der Oberfläche. Mit Hilfe einer kompakten und flächigen Beleuchtungseinheit werden auf elektronischem Weg strukturierte Muster erzeugt. Anders als bei anderen strukturierten Beleuchtungsverfahren geschieht der Wechsel der Beleuchtungsmuster dabei mit vielfach höherer Frequenz und Intensität. Dies ermöglicht die effiziente Inspektion von Bauteilen sowohl im Stillstand als auch in linearer Bewegung und Rotation. Ein integrierter Sensor umfasst sämtliche Schnittstellen zur einfachen Einbindung in den Prüfprozess. Die automatisierte Auswertung erfolgt benutzerfreundlich anhand von topographischen Bildern der Oberfläche. Ein Vergleich schlägt die Brücke zu bestehenden Verfahren der Oberflächenprüfung wie dem photometrischen Stereoverfahren und weiterentwickelten Technologien für glänzende Oberflächen. Besuchen Sie auch unsere Website: https://www.stemmer-imaging.com/de-de/