Micro-Epsilon reflectCONTROL: Präzise 3D-Inspektion spiegelnder Oberflächen

Der reflectCONTROL Sensor von Micro-Epsilon führt 3D-Oberflächeninspektionen von spiegelnden und glänzenden Oberflächen aus. Die präzise Erkennung von Abweichungen ermöglicht die Einhaltung höchster Qualitätsansprüche. Ebenheitsabweichungen im Bereich weniger Mikrometer werden zuverlässig erfasst. Die Überwachung kann stationär in der Fertigungslinie sowie roboterbasiert erfolgen.

Der 3D-Sensor reflectCONTROL erkennt prozesssicher minimale Ebenheitsabweichungen unter 1 µm.

Der 3D-Sensor reflectCONTROL erkennt prozesssicher minimale Ebenheitsabweichungen unter 1 µm.

Wenn hochpräzise 3D-Messungen auf spiegelnden und glänzenden Bauteilen gefragt sind, bietet sich der Einsatz eines reflectCONTROL-Sensors an. Insbesondere bei ebenen Oberflächen überzeugt die reflectCONTROL-Technologie durch hohe Messraten bei Mikrometer-Genauigkeit. Der Sensor generiert ein Streifenmuster, das über die Oberfläche des Messobjekts in die Kamera des Sensors gespiegelt wird. Verzerrungen im Streifenmuster bedeuten Abweichungen auf der Oberfläche. Diese werden softwarebasiert ausgewertet.

Der 3D-Sensor reflectCONTROL erkennt prozesssicher minimale Ebenheitsabweichungen unter 1 µm. Eingesetzt wird der Sensor beispielsweise zur 3D-Formerfassung von Wafern in der Halbleiterproduktion und der Qualitätsprüfung von Flachglas, z. B. in der Smartphone-Produktion.

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